仪器出现故障的一般规律是：在仪器使用早期，出现故障的可能性较高，其原因主要是由于元器件的质量不佳，筛选老化处理不严格，装配工艺上的缺陷，设计不合理以及人为的操作失误等因素所引起。因此，这一时期的可靠性较低或者说故障发生率较高，这个时期称为仪器的早期故障期。
经过一旦时间的运行后，仪器的元件，机构经过合理的调整，都已逐步适应正常的运动状态，仪器进入稳定使用期，故障的发生率较低，而且一般都是偶然性故障居多。此时仪器处于最佳工作状态，这一时期称为有效使用期，经过长时间运行以后，随着各种元件，尤其是易损元件，结构磨损。损耗程度逐渐增加，仪器的故障发生率又逐渐上升，这个时期为仪器的损耗故障期。
一般仪器早期故障发生于电子元件上，而损耗期故障则多见于机械零部件或光学零部件。
2. 故障种类及发生原因
仪器的故障分必然性故障和偶然性故障，必然性故障是各种元器件，部件经长期使用后，性能和结构发生变化，导致仪器无法进行正常工作，如元件老化、变质、电位器磨损等，偶然性故障是指各种元器件结构等因受外界条件的影响，出现突变性质变，而使仪器不能进行正常工作，如交流电压过高，工作环境较差，仪器受冲击等。
产生故障的原因具体分析如下：
2.1 人为引起的故障
这类故障是由于操作不当引起的，一般多由操作人员对使用程序不熟练或不注意所造成的，这类故障轻者导致仪器不能正常工作，重者可能损坏仪器，因此，在操作使用前，必须熟读用户使用说明书，了解正确的使用操作步骤，慎重行事才能减少这类故障的发生。
2.2 仪器设备质量缺陷引起的故障
（1）元器件质量不好造成的故障：这类故障因元器件本身质量不好所造成的，同类元件发生故障具有一定规律；常用元器件的常见故障如下：
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名称 逐渐形成的故障 突然出现的故障
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光学元件 环境不佳引起发霉 剧烈振动使之损坏、不注意而污染
光电转元件 易老化、性能变差、噪声增大 工作时受强光照射、光电流过大而损坏
光电偶元件 少见 发光二极管损坏
机械零件 使用过程中逐渐磨损精密度下降 因装配固定、连接不良、结构突然失效
碳膜电阻 blank 因螺旋形碳层烧怀而断路
合成电阻 因温度改变引起阻值漂移 少见
线绕电阻 因触点与电阻片间磨损而接触不良 少见
电容器 时有时无绝缘击穿 绝缘完全损坏 、（短路）导线脱离了金属箱（断路）
电解电容 容量下降、漏电流增加 漏电很大、以致过热而逸出气体、爆破
电感 blank 因电流过大而烧坏
二极管 blank 因电流过大而烧坏
晶体管 特性参数逐渐改变而使工作点漂移 基极电流过大而烧坏、工作电压过高而击穿
集成块 长期使用、性能变差 电流大而烧坏电压极性反接电压过高击穿
显示器件 逐渐老化、显示质量下降 少见
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（2）设计不合理造成的故障：这方面的故障有时会导致有关器件频繁损坏有时则可能使仪器性能下降而无法工 作，这类故障多见新产品。
（3）装配工艺上因疏忽造成的故障这类故障多在装配过程中因虚焊，接插件接触不良及各种原因引起的碰线、路、断线、零件松脱产生的。
2.3 长期使用后的故障
这类故障与元器件使用寿命有关因各种元器件衰老所致，所以是必然性故障，从表中可见，大多数器件长期使用后，均会出现故障，例如光电器件，膜极老化，机械零件的逐渐磨损，通气通液管路的老化等等。各元器件的使用寿命差别很大，因此要使仪器能长期正常工作，除了对易损坏元件加强维护外，及时更换这类元器件也不失为一种积极手段。
2.4 外因所致的故障
仪器设备使用环境的条件不符合要求，常常是造成仪器故障的主要原因，般环境条件指的是市电电压、温度、度、电场、磁场、振动等因素。通过了解仪器的故障和原因，对进行仪器故障的检查与维修有一定的帮助，但是真正着手进行维修工作，无论对于初学者，还是具有一定维修经验的人员，都是一件很棘手，难度很高的工作，因为检验仪器种类很多，它们的工作原理和结构特点都不一样，因此出现整机故障现象和产生原因多种多样，另外，即使同一仪器的同样故障，也可以有不同的产生原因，这是故障的查找与判断工作的困难所在，因此，故障的查找、判断、维修工作是一项技术性和经验性都很强，而且难度很高的工作，但是仪器的检查维修工作也有一定的规律可寻，从仪器的检修工作过程以及仪器具有某些相同部件这2点来看，存在共性的。
